絕緣材料介電常數及介質損耗因數測試儀

簡要描述：ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀

儀器介紹
ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。
技術參數
　ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、

產品型號：
廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-07-21
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電壓擊穿試驗儀

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絕緣材料介電常數及介質損耗因數測試儀

ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。

絕緣材料介電常數及介質損耗因數測試儀

ZJD-C作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。 ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀采用了多項技術： 1 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。 3 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。 4 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。 5 全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。 6 DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。 7 計算機自動修正技術和測試回路化 —使測試回路殘余電感減至zui低，* Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。　　ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀的創新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。

Q 值測量范圍	2 ～ 1023 ，量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動換檔或手動換檔
固有誤差	≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差	≤7％ ± 滿度值的2％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
電感測量范圍	4.5nH ～ 140mH
電容直接測量范圍	1 ～ 200pF
主電容調節范圍	18 ～ 220pF
主電容調節準確度	120pF 以下 ± 1.2pF ； 120pF 以上 ± 1 ％
信號源頻率覆蓋范圍	100kHz ～ 160MHz
頻率分段（虛擬）	100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz
頻率指示誤差	3 × 10 -5 ± 1 個字

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